日本Otsuka 

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日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES 日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIESOPTM SERIES

使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上,能达到1秒/点的高速。。。

日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列 日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列MCPD系列

光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700) 提供丰富选配套件以及客制化光纤, 可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的最佳即时测量系统

日本Otsuka界达电位ELSZ-2000 日本Otsuka界达电位ELSZ-2000ELSZ-2000

此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位​粒径及分子量。粒径测量范围(0。6nm~10μm),浓度范围(0。00001%~40%)。实测电气渗透流,高精度的ZETA电位测量,最小容量是13。。。

日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100 日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100QE-2000/2100

瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率)。适用于粉体、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域的迷光。另,采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系的同时,运用其再。。。





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